• PANalytical, X’Pert PRO
  Target type: Cu, Co
  Tube voltage = 40 kV
  Current = 30 mA
  ระบบ Optic: Bragg–Brentano
  ตัวอย่างที่วิเคราะห์ได้ ผง ของแข็ง ฟิล์มพอลิเมอร์
  โหมดการทดสอบ วิเคราะห์เฟส
• Rigaku TTRAX III
  Target type: Cu
  Tube voltage = 50 kV
  Current = 300 mA
  ระบบ Optic: Bragg–Brentano, Parallel-Beam
  ตัวอย่างที่วิเคราะห์ได้ ผง ของแข็ง ฟิล์มพอลิเมอร์
  ฟิล์มบางระดับนาโนเมตร
  โหมดการทดสอบ วิเคราะห์เฟส, Grazing incidence diffraction, Small angle scattering, Nano particle analysis
  Residual stress, Pole figure, Rocking curve, Reciprocal space mapping (RSM)
• โปรแกรมวิเคราะห์ผล Jade Version 9.7
• ฐานข้อมูลรูปแบบการเลี้ยวเบนของวัสดุ ICDD

• วิเคราะห์ชนิดและปริมาณเฟส
• วิเคราะห์ขนาดผลึก
• วิเคราะห์ปริมาณความเป็นผลึก
• วิเคราะห์ลักษณะการจัดเรียงตัวของผลึก
• ศึกษาคุณภาพของผลึกเดี่ยวโดยใช้โหมด Rocking Curve (Omega scan)

1. ติดต่อสอบถามเจ้าหน้าที่เพื่อประเมินการทดสอบ การเตรียมตัวอย่าง รวมทั้งค่าบริการทดสอบ
2. กรอกแบบฟอร์มขอรับบริการ ส่งตัวอย่าง ชำระค่าบริการ

งานบริการลูกค้า โทร. 0 2564 6500 ต่อ 4109-4111 และ 4151

อีเมล: Xray@mtec.or.th

ศูนย์เทคโนโลยีโลหะและวัสดุแห่งชาติ 114 ถนนพหลโยธิน ต.คลองหนึ่ง อ. คลองหลวง จ. ปทุมธานี 12120