การวิเคราะห์วัสดุด้วยเทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดและจุลวิเคราะห์ด้วยเอ็กซ์เรย์ และอิเล็กตรอนแบคสแกตเตอร์ดิฟแฟรกชัน
(Materials Characterization with Scanning Electron Microscopy,
Electron Backscatter Diffraction and X-Ray Microanalysis Techniques)
จัดโดย
ศูนย์เทคโนโลยีโลหะและวัสดุแห่งชาติ (เอ็มเทค)
สำนักงานพัฒนาวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งชาติ
กระทรวงวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี
ภาคบรรยาย 1 วัน: วันพุธที่ 15 สิงหาคม 2561
ภาคบรรยายและปฏิบัติ 3 วัน: วันที่ 15-17 สิงหาคม 2561
สถานที่ ห้องM120 อาคารเอ็มเทค อุทยานวิทยาศาสตร์ประเทศไทย จ.ปทุมธานี คลิกดู แผนที่
หลักการและเหตุผล
การทำงานวิจัยและพัฒนาวัสดุ หรือการพัฒนาผลิตภัณฑ์และชิ้นส่วนต่างๆ ตลอดจนการวิเคราะห์ความเสียหายหรือตำหนิของชิ้นงานทั้งจากกระบวนการผลิตและการใช้งาน ล้วนต้องอาศัยองค์ความรู้ด้านวัสดุศาสตร์และวัสดุวิศวกรรมเพื่ออธิบายสมบัติหรืออธิบายพฤติกรรมของวัสดุ และเป็นที่เข้าใจว่าองค์ประกอบและลักษณะทางโครงสร้างทั้งในระดับมหาภาค (Macro) และในระดับจุลภาค (Micro) ของวัสดุแต่ละชนิดมีอิทธิพลโดยตรงต่อสมบัติและสมรรถนะของวัสดุนั้นๆ การศึกษาโครงสร้างของวัสดุจึงขาดเสียมิได้สำหรับผู้ที่ทำงานด้านนี้ โดยเฉพาะอย่างยิ่งโครงสร้างจุลภาคของวัสดุเพราะสมบัติของวัสดุส่วนใหญ่ขึ้นกับโครงสร้างในระดับนี้ ปัจจุบันมีเทคนิคการวิเคราะห์วัสดุหลายเทคนิคที่ใช้ในการวิเคราะห์ ในจำนวนเทคนิคต่างๆ มากมายนั้น เทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกรวด (Scanning Electron Microscopy (SEM)) นับว่าเป็นเทคนิคที่สำคัญเทคนิคหนึ่ง และเป็นเทคนิคที่นิยมใช้อย่างกว้างขวางทั้งในหน่วยงานวิจัยทั้งภาครัฐและเอกชน ภาคการศึกษา หน่วยงานของรัฐ และภาคเอกชนที่ดำเนินธุรกิจเกี่ยวกับอุตสาหกรรมการผลิตชิ้นส่วนต่างๆ ทั้งชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ชิ้นส่วนยานยนต์ อุปกรณ์ทางการแพทย์ สิ่งทอ และบรรจุภัณฑ์ เป็นต้น เนื่องจากเป็นเทคนิคที่ให้ข้อมูลพื้นฐานของโครงสร้างจุลภาคของวัสดุที่ชัดเจน จากการมองเห็นภาพจากการถ่ายภาพที่กำลังขยายสูง รวมไปถึงสามารถวิเคราะห์องค์ประกอบธาตุในบริเวณที่เราสนใจด้วยเทคนิคจุลวิเคราะห์ด้วยเอกซ์เรย์ (X-Ray (EDS&SXES) Microanalysis) ที่ติดตั้งกับเครื่อง SEM และเพื่อเพิ่มสักยภาพในการวิเคราะห์วัสดุในปัจจุบันมีการใช้เทคนิคอิเล็กตรอนแบคสแกตเตอร์ดิฟแฟรกชัน (Electron Backscatter Diffraction (EBSD) มาช่วยการวิเคราะห์วัสดุ ซึ่งเป็นเทคนิคที่ใช้กันมากในการวิเคราะห์เชิงลึกของวัสดุ ซึ่งเทคนิคนี้มีความสามารถในจำแนกโครงสร้างผลึกของวัสดุตลอดจนวิเคราะห์ทิศทางการจัดเรียงตัวของผลึกในบริเวณที่สนใจ ซึ่งติดตั้งกับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกรวดเช่นเดียวกัน ซึ่งจะเป็นประโยชน์มากสำหรับงานวิจัยที่จะเกิดขึ้นในอนาคต
วัตถุประสงค์
การอบรมครั้งนี้จึงมีวัตถุประสงค์เพื่ออธิบายหลักการทำงานของเครื่อง SEM, EDS และ EBSD ทฤษฎีและปฏิบัติที่เกี่ยวข้องในการเกิดสัญญาณอิเล็กตรอนและรังสีเอ็กซ์ และการนำสัญญาณอิเล็กตรอนมาใช้ในการถ่ายภาพและการวิเคราะห์โครงสร้างจุลภาคของวัสดุด้วย EBSD และวิเคราะห์องค์ประกอบทางเคมีในบริเวณที่สนใจจากรังสีเอ็กซ์ที่เกิดขึ้น นอกจากนี้จะอธิบายทฤษฎีและปฏิบัติที่เกี่ยวข้องกับการเตรียมชิ้นงานตัวอย่างสำหรับการวิเคราะห์วัสดุด้วยเทคนิค SEM, EDS และ EBSD ซึ่งจะเป็นประโยชน์อย่างยิ่งสำหรับผู้ที่ใช้งาน และผู้ที่ทำหน้าที่ตรวจสอบหรือวิเคราะห์วัสดุ ตลอดจนผู้ที่นำผลวิเคราะห์ไปใช้
โปรแกรมการฝึกอบรม
– ภาคทฤษฎี รับสมัครจำนวนจำกัด 40 ท่าน อบรมวันพุธที่ 15 ส.ค. 61 เนื้อหาหลักประกอบด้วย
– SEM, EDS, SXES and EBSD (Theory)
– ภาคทฤษฎีและปฏิบัติ จำกัดเพียง 12 ท่านเท่านั้น อบรมวันที่ 15-17 สค. 61 รวม 3 วัน
– SEM, EDS, SXES and EBSD (Theory)
– Sample Preparation for SEM, EDS and EBSD Techniques(Theory and Operation)
– SEM, EDS, EXES and EBSD (Operation)
กลุ่มเป้าหมาย
1. ภาคอุตสาหกรรมที่ใช้เทคนิค SEM/EDS/EBSD ในการวิเคราะห์วัสดุ
2. นักวิจัย คณาจารย์จากสถาบันการศึกษาและหน่วยงานภาคการวิจัย
3. นักศึกษาระดับบัณฑิตศึกษา
วิทยากร
1. ดร. อัศสฎาวุฒิ ปาทาคำ
นักวิจัย ห้องปฏิบัติการเทคโนโลยีกระบวนการผลิตวัสดุผง หน่วยวิจัยโลหะ เอ็มเทค
มีประสบการณ์ในด้านการใช้เทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดมามากกว่า 10 ปี
2. คุณ วิยภรณ์ กรองทอง
ห้องปฏิบัติการวิเคราะห์เชิงฟิสิกส์ หน่วยวิเคราะห์ลักษณะเฉพาะของวัสดุ เอ็มเทค
3. คุณ วารุณี บวรเกียรติแก้ว
ห้องปฏิบัติการวิเคราะห์เชิงฟิสิกส์ หน่วยวิเคราะห์ลักษณะเฉพาะของวัสดุ เอ็มเทค
และ ทีมงานจากห้องปฏิบัติการจุลทรรศน์ เอ็มเทค
กำหนดการและหัวข้อการอบรม
15 สิงหาคม 2561 – SEM, EDS and EBSD (ภาคบรรยาย)
วิทยากร: คุณอัศสฎาวุฒิ ปาทาคำ
09.00-10.30 Introduction Scanning Electron Microscopy
Theory of Scanning Electron Microscopy
Ø Vacuum System
Ø Electron Gun
Ø Electron Lens
10.30-10.45 Break
10.45-12.00 Theory of Scanning Electron Microscopy
Ø Electron Beam Interaction with Specimen
Ø Detector of SEM
§ Secondary Electron Detector
§ Backscatter Electron Detector
Ø Environmental SEM
Ø Questions and Answers
12.00-13.00 Lunch
13.00-14.00 Theory Energy Dispersive Spectrometry
Ø Characteristic X-Ray
Ø X-Ray Detector
§ EDS Detector
§ SXES Detector
Ø Quantitative and Qualitative Analysis
Ø X-Ray Mapping and Line Scan
Ø Applications of SEM and EDS Technique
Ø Applications of SXES Technique
14.00-14.15 Break
14.15-17.00 Theory of Electron Backscatter Diffraction (EBSD)
Application of Electron Backscatter Diffraction (EBSD)
Ø EBSD Point Analysis
Ø Orientation Imaging Microscopy (OIM)
Sample Preparation for EBSD Technique
Questions and Answers
16 สิงหาคม 2561 – Sample Preparation for EBSD Techniques (ภาคปฏิบัติ)
วิทยากร: คุณวารุณี บวรเกียรติแก้ว และคุณวิยภรณ์ กรองทอง
09.00-10.30 Principle of Sample Preparation
Ø Cutting
Ø Mounting
Ø Grinding
Ø Polishing
Ø Etching
10.30-10.45 Break
10.45-12.00 Principle Sample Preparation for SEM and EBSD Techniques
12.00-13.00 Lunch
13.00-14.30 Workshop of Sample Preparation for SEM and EBSD Techniques
14.30-14.45 Break
14.45-16.00 Workshop of Sample Preparation for SEM and EBSD Techniques
16.00-16.30 Questions and Answers
17 สิงหาคม 2561 – EBSD (ภาคปฏิบัติ)
วิทยากร: คุณวิยภรณ์ กรองทอง และ คุณอัศสฎาวุฒิ ปาทาคำ
9.00-10.30 Scanning Electron Microscopy Setting
Ø Electron Gun
Ø Electron Lens
Ø Vacuum
Operation of Energy Dispersive Spectrometry (EDS)
10.30-10.45 Break
10.45-12.00 Application of Energy Dispersive Spectrometry (EDS)
Ø EDS Point Analysis
Ø EDS Mapping
Ø EDS Line-scan
Applications of SXES Technique (SXES)
Questions and Answers
12.00-13.00 Lunch
13.00-14.00 Operation of Electron Backscatter Diffraction (EBSD)
Ø Exposure
Ø Gain
Ø Contrast & brightness
Ø EBSD Point Analysis
Ø Orientation Imaging Microscopy (OIM)
14.00-14.15 Break
14.15-17.00 Application of Electron Backscatter Diffraction (EBSD)
Questions and Answers
ค่าลงทะเบียน
ราคาปกติ
ภาคบรรยาย 1 วัน ราคา 3,000 บาท/ท่าน
ภาคบรรยายและปฏิบัติ รวม 3 วัน ราคา 8,000 บาท/ท่าน
ราคาพิเศษ หากท่านชำระค่าอบรมภายในวันที่ 1 ส.ค. 2561
ภาคบรรยาย 1 วัน ลดเหลือ 2,700 บาท/ท่าน
ภาคบรรยายและปฏิบัติ รวม 3 วัน ลดเหลือ 7,500 บาท/ท่าน
**โปรดชำระค่าลงทะเบียนภายในวันที่ 10 ส.ค. 2561**
หมายเหตุ
• อัตราค่าลงทะเบียนรวมค่าอาหารว่าง อาหารกลางวัน เอกสารประกอบการอบรม และภาษีมูลค่าเพิ่ม 7%
• ศูนย์เทคโนโลยีโลหะและวัสดุแห่งชาติ เป็นหน่วยงานของรัฐ จึงไม่อยู่ในเกณฑ์ที่ต้องหักภาษี 3%
การลงทะเบียน
• ลงทะเบียนผ่านเว็บไซต์ (สามารถเลือกสมัคร ภาคบรรยาย หรือ ภาคบรรยายและปฏิบัติ ได้ในระบบลงทะเบียน)
ลงทะเบียนออนไลน์ 
การชำระค่าลงทะเบียน
โอนเงินเข้าบัญชี ศูนย์เทคโนโลยีโลหะและวัสดุแห่งชาติ ธนาคารกรุงเทพ จำกัด (มหาชน) ประเภทออมทรัพย์
สาขาย่อยอุทยานวิทยาศาสตร์ เลขที่บัญชี 080-0-000846
(กรุณาส่งหลักฐานการโอนเงินมาที่อีเมล boonrkk@mtec.or.th )
สอบถามรายละเอียดเพิ่มเติมได้ที่
งานพัฒนากำลังคนด้านวัสดุศาสตร์ (คุณบุญรักษ์ หรือคุณพลธร)
ศูนย์เทคโนโลยีโลหะและวัสดุแห่งชาติ
โทรศัพท์ 0 2564 6500 ต่อ 4675, 4677
E-mail: boonrkk@mtec.or.th
