การวิเคราะห์วัสดุด้วยเทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดและจุลวิเคราะห์ด้วยเอ็กซ์เรย์ และอิเล็กตรอนแบคสแกตเตอร์ดิฟแฟรกชัน (วันที่ 26-28 มิถุนายน และ 8-9 กรกฎาคม 2562) • MTEC A Member Of NSTDA

การวิเคราะห์วัสดุด้วยเทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดและ
จุลวิเคราะห์ด้วยเอ็กซ์เรย์และอิเล็กตรอนแบคสแกตเตอร์ดิฟแฟรกชัน

(Materials Characterization with Scanning Electron Microscopy, Electron Backscatter Diffraction and X-Ray Microanalysis Techniques)

ภาคบรรยาย
วันที่ 26 มิถุนายน 2562

ภาคบรรยายและ
ภาคปฏิบัติรุ่นที่ 1
วันที่ 26 - 28 มิถุนายน 2562

ภาคบรรยายและ
ภาคปฏิบัติรุ่นที่ 2
วันที่ 26 มิถุนายน และ
8 - 9 กรกฎาคม 2562

สถานที่: ห้องM120 อาคารเอ็มเทค อุทยานวิทยาศาสตร์ประเทศไทย จ.ปทุมธานี (ดูแผนที่)

หลักการและเหตุผล

การทำงานวิจัยและพัฒนาวัสดุ หรือการพัฒนาผลิตภัณฑ์และชิ้นส่วนต่างๆ ตลอดจนการวิเคราะห์ความเสียหายหรือตำหนิของชิ้นงานทั้งจากกระบวนการผลิตและการใช้งาน ล้วนต้องอาศัยองค์ความรู้ด้านวัสดุศาสตร์และวัสดุวิศวกรรมเพื่ออธิบายสมบัติหรืออธิบายพฤติกรรมของวัสดุ และเป็นที่เข้าใจว่าองค์ประกอบและลักษณะทางโครงสร้างทั้งในระดับมหาภาค (Macro) และในระดับจุลภาค (Micro) ของวัสดุแต่ละชนิดมีอิทธิพลโดยตรงต่อสมบัติและสมรรถนะของวัสดุนั้นๆ การศึกษาโครงสร้างของวัสดุจึงขาดเสียมิได้สำหรับผู้ที่ทำงานด้านนี้ โดยเฉพาะอย่างยิ่งโครงสร้างจุลภาคของวัสดุเพราะสมบัติของวัสดุส่วนใหญ่ขึ้นกับโครงสร้างในระดับนี้ ปัจจุบันมีเทคนิคการวิเคราะห์วัสดุหลายเทคนิคที่ใช้ในการวิเคราะห์ ในจำนวนเทคนิคต่างๆ มากมายนั้น เทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกรวด (Scanning Electron Microscopy (SEM)) นับว่าเป็นเทคนิคที่สำคัญเทคนิคหนึ่ง และเป็นเทคนิคที่นิยมใช้อย่างกว้างขวางทั้งในหน่วยงานวิจัยทั้งภาครัฐและเอกชน ภาคการศึกษา หน่วยงานของรัฐ และภาคเอกชนที่ดำเนินธุรกิจเกี่ยวกับอุตสาหกรรมการผลิตชิ้นส่วนต่างๆ ทั้งชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ชิ้นส่วนยานยนต์ อุปกรณ์ทางการแพทย์ สิ่งทอ และบรรจุภัณฑ์ เป็นต้น เนื่องจากเป็นเทคนิคที่ให้ข้อมูลพื้นฐานของโครงสร้างจุลภาคของวัสดุที่ชัดเจน จากการมองเห็นภาพจากการถ่ายภาพที่กำลังขยายสูง รวมไปถึงสามารถวิเคราะห์องค์ประกอบธาตุในบริเวณที่เราสนใจด้วยเทคนิคจุลวิเคราะห์ด้วยเอกซ์เรย์ (X-Ray (EDS&SXES) Microanalysis) ที่ติดตั้งกับเครื่อง SEM และเพื่อเพิ่มศักยภาพในการวิเคราะห์วัสดุในปัจจุบันมีการใช้เทคนิคอิเล็กตรอนแบคสแกตเตอร์ดิฟแฟรกชัน (Electron Backscatter Diffraction (EBSD) มาช่วยการวิเคราะห์วัสดุ ซึ่งเป็นเทคนิคที่ใช้กันมากในการวิเคราะห์เชิงลึกของวัสดุ ซึ่งเทคนิคนี้มีความสามารถในจำแนกโครงสร้างผลึกของวัสดุตลอดจนวิเคราะห์ทิศทางการจัดเรียงตัวของผลึกในบริเวณที่สนใจ ซึ่งติดตั้งกับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดเช่นเดียวกัน ซึ่งจะเป็นประโยชน์มากสำหรับงานวิจัยที่จะเกิดขึ้นในอนาคต

วัตถุประสงค์

เพื่ออธิบายหลักการทำงานของเครื่อง SEM, EDS และ EBSD ทฤษฎีและปฏิบัติที่เกี่ยวข้องในการเกิดสัญญาณอิเล็กตรอนและรังสีเอ็กซ์ และการนำสัญญาณอิเล็กตรอนมาใช้ในการถ่ายภาพและการวิเคราะห์โครงสร้างจุลภาคของวัสดุด้วย EBSD และวิเคราะห์องค์ประกอบทางเคมีในบริเวณที่สนใจจากรังสีเอ็กซ์ที่เกิดขึ้น นอกจากนี้จะอธิบายทฤษฎีและปฏิบัติที่เกี่ยวข้องกับการเตรียมชิ้นงานตัวอย่างสำหรับการวิเคราะห์วัสดุด้วยเทคนิค SEM, EDS และ EBSD ซึ่งจะเป็นประโยชน์อย่างยิ่งสำหรับผู้ที่ใช้งาน และผู้ที่ทำหน้าที่ตรวจสอบหรือวิเคราะห์วัสดุ ตลอดจนผู้ที่นำผลวิเคราะห์ไปใช้

กลุ่มเป้าหมาย

1. ภาคอุตสาหกรรมที่ใช้เทคนิค SEM/EDS/EBSD ในการวิเคราะห์วัสดุ

2. นักวิจัย คณาจารย์จากสถาบันการศึกษาและหน่วยงานภาคการวิจัย

3. นักศึกษาระดับบัณฑิตศึกษา

ประเภทของหลักสูตรที่เปิดรับสมัคร

1. หลักสูตรบรรยายอย่างเดียว รับสมัครจำนวน 25 ท่าน เรียนภาคบรรยาย 1 วัน ในวันที่ 26 มิ.ย. 62

2. หลักสูตรบรรยายและปฏิบัติรุ่นที่ 1 รับสมัครจำนวน 12 ท่าน เรียนภาคบรรยาย 1 วัน ในวันที่ 26 มิ.ย. 62 และเรียนภาคปฏิบัติ 2 วัน ในวันที่ 27-28 มิ.ย. 62

3. หลักสูตรบรรยายและปฏิบัติรุ่นที่ 2 รับสมัครจำนวน 12 ท่าน เรียนภาคบรรยาย 1 วัน ในวันที่ 26 มิ.ย. 62 และเรียนภาคปฏิบัติ 2 วัน ในวันที่ 8-9 ก.ค. 62

วิทยากร

ดร. อัศสฎาวุฒิ ปาทาคำ

นักวิจัย, ทีมวิจัยเทคโนโลยีกระบวนการผลิตวัสดุผง,

กลุ่มวิจัยโลหะ, เอ็มเทค

มีประสบการณ์ในด้านการใช้เทคนิค

จุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดมามากกว่า 10 ปี