เทคนิคจุลทรรศน์แบบแสง
 |  |  |  |  |
เทคนิคจุลทรรศน์แบบแสงเป็นเทคนิคที่ใช้ในการวิเคราะห์โครงสร้างจุลภาคของวัสดุ โดยใช้แสงที่อยู่ในช่วงคลื่นแสงที่มองเห็นได้
โครงสร้างจุลภาคของวัสดุมีความสำคัญ เนื่องจากมีผลต่อสมบัติทางกายภาพ ได้แก่ ความแข็งแรง ความทนทานต่อการแตกหักของวัสดุ ความสามารถแปรรูปหรือยืดตัวได้มากขึ้นก่อนเกิดการแตกหักหรือขาด ความแข็ง และ ความต้านทานการกัดกร่อน เป็นต้น
อุตสาหกรรมที่ใช้เทคนิคนี้ ได้แก่ อิเล็กทรอนิกส์ โลหะ โพลิเมอร์ เซรามิก และสิ่งทอ
a) Zoom Stereo Microscope (ZEISS, Stemi-2000-C)
b) Olympus Metallugical Microscope BH2-UMA
c) Polarized Microscope (PLM) (ZEISS, Axioskop)
d) Reflected Light Microscope Attached with CCD Camera and Software of Image Analyzer (Software of Media Cybernetic, Inc. Image Pro® Plus Version 5.1 for Windows TM)
• วิเคราะห์โครงสร้างจุลภาคของวัสดุ
• ศึกษาความหนาของชั้นเคลือบ
• ตรวจสอบรอยเชื่อมของ IC ที่ติดบน PCB Board หรืองานระดับจุลภาคของผลิตภัณฑ์กลุ่มอิเล็กทรอนิกส์
• ตรวจสอบงานที่ต้องใช้ความรู้เฉพาะทาง ได้แก่ การศึกษาลักษณะข้อบกพร่องของผลิตภัณฑ์ หรือ ตรวจสอบแร่ใยหินที่ปนเปื้อนในผลิตภัณฑ์ ทั้งนี้อาจใช้เทคนิคอื่น เช่น กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกนนิง หรือกล้องจุลทรรศน์แบบใช้แสงโพลาไรซ์ ร่วมด้วย
1. ติดต่อสอบถามเจ้าหน้าที่เพื่อประเมินการทดสอบ การเตรียมตัวอย่าง รวมทั้งค่าบริการทดสอบ
2. กรอกแบบฟอร์มขอรับบริการ ส่งตัวอย่าง ชำระค่าบริการ
งานบริการลูกค้า โทร. 0 2564 6500 ต่อ 4109-4111
ศูนย์เทคโนโลยีโลหะและวัสดุแห่งชาติ 114 ถนนพหลโยธิน ต.คลองหนึ่ง อ. คลองหลวง จ. ปทุมธานี 12120