จุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบทรานสมิสชัน
เทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบทรานสมิสชัน หรือ TEM (Transmission Electron Microscopy) วิเคราะห์วัสดุโดยใช้อิเล็กตรอนยิงทะลุผ่านชิ้นงานบางๆ แล้วตรวจจับสัญญาณที่ปรากฏบนจอรับภาพหรือแผ่นฟิล์ม
เทคนิคนี้ใช้ศึกษาโครงสร้างจุลภาค สัณฐานของอนุภาค โครงสร้างผลึก รวมถึงองค์ประกอบทางเคมี (หากใช้ร่วมกับเอเนอร์จีดิสเพอร์ซีฟเอกซ์เรย์สเปกโทรเมตรี (energy dispersive x-ray spectrometry)) และข้อมูลเกี่ยวกับพันธะของอะตอม (หากใช้ร่วมกับอิเล็กตรอนเอเนอร์จีลอสสเปกโทรเมตรี (electron energy loss spectrometry))
TEM สามารถประยุกต์ใช้ในวงการต่างๆ ได้ เช่น การแพทย์ โบราณคดี ชีววิทยา นาโนเทคโนโลยี และอุตสาหกรรมอิเล็กทรอนิกส์
 |  |  |  |
| a) | b) | c) | d) |
a) Transmission Electron Microscopy : JEOL (JEM-2010) ใช้แหล่งกำเนิดอิเล็กตรอนแบบเทอร์มิออนิก ชนิด LaB6 ทำงานที่ความต่างศักย์ 200 keV
b) Electro-polisher : Tenupol-3 เครื่องมือที่ใช้สำหรับการเตรียมชิ้นงานประเภทโลหะ โดยอาศัยหลักการทางไฟฟ้าเคมี
c) Ultra-microtome : LEICA EM FCS เครื่องมือที่ใช้สำหรับการเตรียมชิ้นงานประเภทโพลิเมอร์ โดยสามารถทำงานได้ที่อุณหภูมิห้องและอุณหภูมิต่ำ (cryogenic)
d) Precision Ion Polishing System (PIPS) : Gatan 691 เครื่องมือที่ใช้สำหรับการเตรียมชิ้นงานประเภทเซรามิกส์ โดยอาศัยลำอิเล็กตรอนในการลดความหนาของชิ้นงานในขั้นตอนสุดท้าย
• อธิบายและวิเคราะห์ผลด้วยเทคนิค TEM
• เตรียมตัวอย่างชิ้นงานด้วยเครื่องอัลตร้าไมโครโทม เครื่องอิเล็กโทรพอลิเชอร์ และเครื่องขัดระบบลำไอออน
• ให้คำปรึกษาและบริการข้อมูลเกี่ยวกับเทคนิค TEM
1. ติดต่อสอบถามเจ้าหน้าที่เพื่อประเมินการทดสอบ การเตรียมตัวอย่าง รวมทั้งค่าบริการทดสอบ
2. กรอกแบบฟอร์มขอรับบริการ ส่งตัวอย่าง ชำระค่าบริการ
งานบริการลูกค้า โทร. 0 2564 6500 ต่อ 4109-4111
ศูนย์เทคโนโลยีโลหะและวัสดุแห่งชาติ 114 ถนนพหลโยธิน ต.คลองหนึ่ง อ. คลองหลวง จ. ปทุมธานี 12120